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金相显微镜BX51M

产品时间:2020-11-09 11:16

简要描述:

金相显微镜BX51M...

详细介绍
金相显微镜BX51M
产品特点:

暗视场可以让用户观察来自样本散射和衍射的光线。光源的光线会先穿过照明装置中的环形光学照明器件,然后在样本上聚焦。样本上的光线只是由轴上的瑕疵反射形成的。因此,用户可以观测到比光学显微镜分辨极限更小的、8 nm 级的微小划痕和缺陷。暗视场适合检测样本上的微小划痕及瑕疵和检查表面光滑的样本,包括晶圆。

 

偏振光观察法

该显微观察技术所使用的偏振光是由一组滤镜(检偏振器和起偏振器)产生的。样本特征会直接影响系统反射光的强度。该观察法适用于观察金相组织(例,球墨铸铁中石墨的生长图案)、矿物、LCD 和半导体材料。

 

微分干涉(DIC)观察法

DIC 是一种显微观察技术,可以将明视场观察法中无法检测到的高度差异,用增强的对比度以浮雕或三维图像的形式表现出来。该项基于偏振光的技术,拥有三个专门设计的棱镜可供选择以满足用户的需求。该观察法适用于检测高度差异极其微小的样本,包括金相组织、矿物、磁头研磨面和硬盘表面及晶圆研磨面。

 

荧光观察法

半导体晶圆上的颗粒

该项技术适用于观察那些在受到专门设计的滤镜(可以按照检测需要制作)照明时会发出荧光(发出不同波长的光线)的样本。该方法通过荧光染色,应用于观测半导体晶圆表面的污物、抗蚀剂的残渣和裂痕的检测。可以添加选购的复消色差光源聚光透镜系统,从而为可见光到近红外线范围内的色差进行补偿。

 

IR(红外线)观察法

硅晶片层下的半导体电路

对使用了硅片、玻璃等易透射红外线的电子设备的内部进行无损检测时,IR 观察十分有效。IR 物镜也可用于近红外线技术,如:拉曼光谱仪和YGA 激光修复应用。

 

处理滤镜

OLYMPUS Stream 拥有各种滤镜,可用于边缘检测、平滑处理和其它操作。使用处理滤镜在拍摄的图像上进行增强和修改处理后,图像的特征变为可视化。为达到**效果,可使用预览图检查或调整滤镜的效果。

 

透射光观察法

LCD彩色滤镜

对于透明样本,如,LCD、塑料和玻璃材料,可通过使用各种透射光聚光镜实现真正的透射光观察。使用透射光可以在明视场、暗视场、DIC 和偏振光中对样本进行成像和检查--所有这些都在一个便捷的系统里。

 

自动制作3D 图像(EFI

硬盘细节

使用BX61 或外部电动调焦单元,便可以快速地记录并组合超出焦深之外的样本的图像。只需一键操作,使用EFI 功能便可以将各个不同焦深的图像合成一幅3D 图像。的3D数据可用于3D 观察或用于测量高度和距离。

产品优势:
金相显微镜BX51M的显微观察技术所使用的偏振光是由一组滤镜(检偏振器和起偏振器)产生的。样本特征会直接影响系统反射光的强度。该观察法适用于观察金相组织、矿物、LCD 和半导体材料。


 


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